《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》經(jīng)新聞出版總署批準,自1980年創(chuàng)刊,國內刊號為44-1412/TN,本刊積極探索、勇于創(chuàng)新,欄目設置及內容節(jié)奏經(jīng)過編排與改進,受到越來越多的讀者喜愛。
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》是目前國內在電子產(chǎn)品質量、可靠性與環(huán)境適應性領域中唯一公開發(fā)行的、具有權威性和影響力的專業(yè)期刊。
雜志簡介:《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》雜志經(jīng)新聞出版總署批準,自1980年創(chuàng)刊,國內刊號為44-1412/TN,是一本綜合性較強的電子期刊。該刊是一份雙月刊,致力于發(fā)表電子領域的高質量原創(chuàng)研究成果、綜述及快報。主要欄目:自動化技術及設備、計算機科學與技術、計量與測試技術、可靠性與環(huán)境適應性理論研究、可靠性與環(huán)境試驗技術及評價、仿真建模與分析、軟件...
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》經(jīng)新聞出版總署批準,自1980年創(chuàng)刊,國內刊號為44-1412/TN,本刊積極探索、勇于創(chuàng)新,欄目設置及內容節(jié)奏經(jīng)過編排與改進,受到越來越多的讀者喜愛。
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》是目前國內在電子產(chǎn)品質量、可靠性與環(huán)境適應性領域中唯一公開發(fā)行的、具有權威性和影響力的專業(yè)期刊。
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》雜志學者發(fā)表主要的研究主題主要有以下內容:
(一)可靠性;集成電路;單粒子效應;木馬;電遷移
(二)集成電路;可靠性;總劑量效應;靜電放電;ESD
(三)可靠性;集成電路;單粒子效應;壽命評價;裸芯片
(四)IEC標準;電子類;電氣;ISO;IEC
(五)戰(zhàn)備完好率;RMS;戰(zhàn)備完好性;設計軟件;可靠性
(六)可靠性;電子元器件;AMSAA模型;電子設備;軍用
(七)可靠性;電子元器件;塑封微電路;集成電路;VLSI
(八)IEC標準;電子類;電氣;IEC;標準制修訂
(九)集成電路;MESFET;砷化鎵;VLSI;可靠性
(十)可靠性;集成電路;裸芯片;VLSI;SIGE_HBT
1、按學術研究規(guī)范和編輯部的有關規(guī)定,認真核對引文、注釋和文中使用的其他資料,確保引文、注釋和相關資料準確無誤。如使用轉引資料,應實事求是注明轉引出處。
2、作者限于主要參與論文的寫作、實驗操作、數(shù)據(jù)采集和處理,并能對文稿內容負責、解答有關問題的責任者。作者的排列順序由供稿者確定。
3、題名:簡明、具體、概括文章的要旨,一般不超過20個漢字,可使用副標題。
4、參考文獻:是對引文作者、作品、出處、版本等情況的說明,文中用序號標出,詳細引文情況按順序排列文尾。
5、請作者恪守學術倫理,文責自負。請勿一稿數(shù)投。
立即指數(shù):立即指數(shù) (Immediacy Index)是指用某一年中發(fā)表的文章在當年被引用次數(shù)除以同年發(fā)表文章的總數(shù)得到的指數(shù);該指數(shù)用來評價哪些科技期刊發(fā)表了大量熱點文章,進而能夠衡量該期刊中發(fā)表的研究成果是否緊跟研究前沿的步伐。
引證文獻:又稱來源文獻,是指引用了某篇文章的文獻,是對本文研究工作的繼續(xù)、應用、發(fā)展或評價。這種引用關系表明了研究的去向,經(jīng)過驗證,引證文獻數(shù)等于該文獻的被引次數(shù)。引證文獻是學術論著撰寫中不可或缺的組成部分,也是衡量學術著述影響大小的重要因素。
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