電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)雜志簡(jiǎn)介
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)》經(jīng)新聞出版總署批準(zhǔn),自1980年創(chuàng)刊,國(guó)內(nèi)刊號(hào)為44-1412/TN,本刊積極探索、勇于創(chuàng)新,欄目設(shè)置及內(nèi)容節(jié)奏經(jīng)過(guò)編排與改進(jìn),受到越來(lái)越多的讀者喜愛(ài)。
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)》是目前國(guó)內(nèi)在電子產(chǎn)品質(zhì)量、可靠性與環(huán)境適應(yīng)性領(lǐng)域中唯一公開(kāi)發(fā)行的、具有權(quán)威性和影響力的專業(yè)期刊。
《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)》雜志學(xué)者發(fā)表主要的研究主題主要有以下內(nèi)容:
(一)可靠性;集成電路;單粒子效應(yīng);木馬;電遷移
(二)集成電路;可靠性;總劑量效應(yīng);靜電放電;ESD
(三)可靠性;集成電路;單粒子效應(yīng);壽命評(píng)價(jià);裸芯片
(四)IEC標(biāo)準(zhǔn);電子類;電氣;ISO;IEC
(五)戰(zhàn)備完好率;RMS;戰(zhàn)備完好性;設(shè)計(jì)軟件;可靠性
(六)可靠性;電子元器件;AMSAA模型;電子設(shè)備;軍用
(七)可靠性;電子元器件;塑封微電路;集成電路;VLSI
(八)IEC標(biāo)準(zhǔn);電子類;電氣;IEC;標(biāo)準(zhǔn)制修訂
(九)集成電路;MESFET;砷化鎵;VLSI;可靠性
(十)可靠性;集成電路;裸芯片;VLSI;SIGE_HBT
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)收錄信息
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)雜志榮譽(yù)
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)歷史收錄
- 日本科學(xué)技術(shù)振興機(jī)構(gòu)數(shù)據(jù)庫(kù)
電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗(yàn)雜志特色
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