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Review Of Scientific Instruments
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Review Of Scientific Instruments SCIE

科學(xué)儀器回顧雜志

中科院分區(qū):4區(qū) JCR分區(qū):Q3 預(yù)計審稿周期: 約3.1個月

《Review Of Scientific Instruments》是一本由American Institute of Physics出版商出版的工程技術(shù)國際刊物,國際簡稱為REV SCI INSTRUM,中文名稱科學(xué)儀器回顧。該刊創(chuàng)刊于1930年,出版周期為Monthly。 《Review Of Scientific Instruments》2023年影響因子為1.3,被收錄于國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE。

ISSN:0034-6748
研究方向:工程技術(shù)-物理:應(yīng)用
是否預(yù)警:否
E-ISSN:1089-7623
出版地區(qū):UNITED STATES
Gold OA文章占比:24.62%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:0.1251...
出版商:American Institute of Physics
出版周期:Monthly
影響因子:1.3
創(chuàng)刊時間:1930
年發(fā)文量:869
雜志簡介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計 通訊方式 相關(guān)雜志 期刊導(dǎo)航

Review Of Scientific Instruments 雜志簡介

《Review Of Scientific Instruments》重點專注發(fā)布工程技術(shù)-物理:應(yīng)用領(lǐng)域的新研究,旨在促進和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識。鼓勵該領(lǐng)域研究者詳細地發(fā)表他們的高質(zhì)量實驗研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今,在工程技術(shù)-物理:應(yīng)用領(lǐng)域,有較高影響力,對來稿文章質(zhì)量要求較高,稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Review Of Scientific Instruments 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)(2023年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2022年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月舊的升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月基礎(chǔ)版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2020年12月舊的升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理:應(yīng)用 4區(qū) 4區(qū)
中科院分區(qū)趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區(qū):中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))是中國科學(xué)院文獻情報中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果,是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個重要指標(biāo),一般而言,發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文,通常被認(rèn)為是該學(xué)科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項數(shù)據(jù),現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標(biāo),不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo),而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平,乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。

Review Of Scientific Instruments 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫(2023-2024年最新版)
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q3 56 / 76

27%

學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q4 141 / 179

21.5%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q3 56 / 76

26.97%

學(xué)科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q3 128 / 179

28.77%

Review Of Scientific Instruments CiteScore 評價數(shù)據(jù)(2024年最新版)

  • CiteScore:3
  • SJR:0.434
  • SNIP:0.745

CiteScore 排名

學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Physics and Astronomy 小類:Instrumentation Q3 81 / 141

42%

CiteScore趨勢圖
年發(fā)文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發(fā)布的一個評價學(xué)術(shù)期刊質(zhì)量的指標(biāo),該指標(biāo)是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標(biāo),給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Review Of Scientific Instruments 雜志發(fā)文統(tǒng)計

文章名稱引用次數(shù)

  • An instrument for in situ time-resolved X-ray imaging and diffraction of laser powder bed fusion additive manufacturing processes36
  • The qPlus sensor, a powerful core for the atomic force microscope35
  • Record indoor magnetic field of 1200 T generated by electromagnetic flux-compression21
  • An improved laboratory-based x-ray absorption fine structure and x-ray emission spectrometer for analytical applications in materials chemistry research18
  • A suite-level review of the neutron powder diffraction instruments at Oak Ridge National Laboratory17
  • Cavity-enhanced high harmonic generation for extreme ultraviolet time- and angle-resolved photoemission spectroscopy17
  • SpraySyn-A standardized burner configuration for nanoparticle synthesis in spray flames15
  • A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity14
  • Time- and angle-resolved photoemission spectroscopy of solids in the extreme ultraviolet at 500 kHz repetition rate14
  • The upgraded Polaris powder diffractometer at the ISIS neutron source14

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