亚洲激情综合另类男同-中文字幕一区亚洲高清-欧美一区二区三区婷婷月色巨-欧美色欧美亚洲另类少妇

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications
收藏雜志

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications SCIE

電子測試?yán)碚撆c應(yīng)用雜志雜志

中科院分區(qū):4區(qū) JCR分區(qū):Q4 預(yù)計(jì)審稿周期: 較慢,6-12周

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》是一本由Springer US出版商出版的工程技術(shù)國際刊物,國際簡稱為J ELECTRON TEST,中文名稱電子測試?yán)碚撆c應(yīng)用雜志。該刊創(chuàng)刊于1990年,出版周期為Bimonthly。 《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》2023年影響因子為1.1,被收錄于國際知名權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE。

ISSN:0923-8174
研究方向:工程:電子與電氣-工程技術(shù)
是否預(yù)警:否
E-ISSN:1573-0727
出版地區(qū):UNITED STATES
Gold OA文章占比:9.56%
語言:English
是否OA:未開放
OA被引用占比:0.0092...
出版商:Springer US
出版周期:Bimonthly
影響因子:1.1
創(chuàng)刊時(shí)間:1990
年發(fā)文量:43
雜志簡介 中科院分區(qū) JCR分區(qū) CiteScore 發(fā)文統(tǒng)計(jì) 通訊方式 相關(guān)雜志 期刊導(dǎo)航

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 雜志簡介

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》重點(diǎn)專注發(fā)布工程:電子與電氣-工程技術(shù)領(lǐng)域的新研究,旨在促進(jìn)和傳播該領(lǐng)域相關(guān)的新技術(shù)和新知識。鼓勵(lì)該領(lǐng)域研究者詳細(xì)地發(fā)表他們的高質(zhì)量實(shí)驗(yàn)研究和理論結(jié)果。該雜志創(chuàng)刊至今,在工程:電子與電氣-工程技術(shù)領(lǐng)域,有較高影響力,對來稿文章質(zhì)量要求較高,稿件投稿過審難度較大。歡迎廣大同領(lǐng)域研究者投稿該雜志。

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 雜志中科院分區(qū)

中科院SCI分區(qū)數(shù)據(jù)
中科院SCI期刊分區(qū)(2023年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2022年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月舊的升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月基礎(chǔ)版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2021年12月升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院SCI期刊分區(qū)(2020年12月舊的升級版)
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
中科院分區(qū)趨勢圖
影響因子趨勢圖

中科院JCR分區(qū):中科院JCR期刊分區(qū)(又稱分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù))是中國科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果,是衡量學(xué)術(shù)期刊影響力的一個(gè)重要指標(biāo),一般而言,發(fā)表在1區(qū)和2區(qū)的SCI論文,通常被認(rèn)為是該學(xué)科領(lǐng)域的比較重要的成果。

影響因子:是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù),現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價(jià)指標(biāo),不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo),而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平,乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 雜志JCR分區(qū)

Web of Science 數(shù)據(jù)庫(2023-2024年最新版)
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 278 / 352

21.2%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 293 / 354

17.37%

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications CiteScore 評價(jià)數(shù)據(jù)(2024年最新版)

  • CiteScore:2
  • SJR:0.271
  • SNIP:0.518

CiteScore 排名

學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q3 495 / 797

37%

CiteScore趨勢圖
年發(fā)文量趨勢圖

CiteScore:是由Elsevier2016年發(fā)布的一個(gè)評價(jià)學(xué)術(shù)期刊質(zhì)量的指標(biāo),該指標(biāo)是指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScore和影響因子的作用是一樣的,都是可以體現(xiàn)期刊質(zhì)量的重要指標(biāo),給選刊的作者了解期刊水平提供幫助。

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 雜志發(fā)文統(tǒng)計(jì)

文章名稱引用次數(shù)

  • Machine Learning for Hardware Security: Opportunities and Risks10
  • Security Analysis of the Efficient Chaos Pseudo-random Number Generator Applied to Video Encryption6
  • Single Event Transient Propagation Probabilities Analysis for Nanometer CMOS Circuits5
  • Test and Reliability in Approximate Computing5
  • An Extensible Code for Correcting Multiple Cell Upset in Memory Arrays4
  • Impact of Aging on the Reliability of Delay PUFs3
  • Hardware Trojan Detection Using an Advised Genetic Algorithm Based Logic Testing3
  • Test Generation for Bridging Faults in Reversible Circuits Using Path-Level Expressions3
  • A Low-Cost Test Solution for Reliable Communication in Networks-on-Chip3
  • The Fundamental Primitives with Fault-Tolerance in Quantum-Dot Cellular Automata3

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 雜志社通訊方式

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志通訊方式為:SPRINGER, VAN GODEWIJCKSTRAAT 30, DORDRECHT, NETHERLANDS, 3311 GZ。詳細(xì)征稿細(xì)則請查閱雜志社征稿要求。本站可提供SCI投稿輔導(dǎo)服務(wù),SCI檢索,確保稿件信息安全保密,合乎學(xué)術(shù)規(guī)范,詳情請咨詢客服。

SCI期刊分類導(dǎo)航

免責(zé)聲明

若用戶需要出版服務(wù),請聯(lián)系出版商:SPRINGER, VAN GODEWIJCKSTRAAT 30, DORDRECHT, NETHERLANDS, 3311 GZ。