根據(jù)最新信息《Displays》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科為COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名14 / 59，百分位77.1%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名112 / 352，百分位68.3%；INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名17 / 76，百分位78.3%；OPTICS，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名30 / 119，百分位75.2%；按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名19 / 59，百分位68.64%ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名111 / 354，百分位68.79%INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q1區(qū)，排名17 / 76，百分位78.29%OPTICS，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名35 / 120，百分位71.25%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q1 | 14 / 59 |
77.1% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 112 / 352 |
68.3% |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 17 / 76 |
78.3% |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 30 / 119 |
75.2% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q2 | 19 / 59 |
68.64% |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 111 / 354 |
68.79% |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 17 / 76 |
78.29% |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 35 / 120 |
71.25% |
這表明該刊在計(jì)算機(jī)：硬件領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該刊創(chuàng)刊時(shí)間：1979年，影響因子：3.7，出版周期：Bimonthly、出版商：Elsevier以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報(bào)告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國(guó)際上通用的期刊評(píng)價(jià)指標(biāo)，不僅是一種測(cè)度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測(cè)度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
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