根據(jù)最新信息《Infrared Physics & Technology》期刊在JCR分區(qū)中的排名如下：
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)學(xué)科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名25 / 76，百分位67.8%；OPTICS，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名37 / 119，百分位69.3%；PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名63 / 179，百分位65.1%；按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)在學(xué)科為INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名24 / 76，百分位69.08%OPTICS，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名43 / 120，百分位64.58%PHYSICS, APPLIED，收錄子集：SCIE，位于Q2區(qū)，排名55 / 179，百分位69.55%。
投稿咨詢| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 25 / 76 |
67.8% |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 37 / 119 |
69.3% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 63 / 179 |
65.1% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 24 / 76 |
69.08% |
| 學(xué)科：OPTICS | SCIE | Q2 | 43 / 120 |
64.58% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 55 / 179 |
69.55% |
這表明該刊在儀器儀表領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力和認(rèn)可度。此外，該刊創(chuàng)刊時間：1994年，影響因子：3.1，出版周期：Bimonthly、出版商：Elsevier以及收錄情況等信息也為其學(xué)術(shù)影響力提供了有力支持。
影響因子：是湯森路透(Thomson Reuters)出品的期刊引證報告(Journal Citation Reports,JCR)中的一項(xiàng)數(shù)據(jù)，現(xiàn)已成為國際上通用的期刊評價指標(biāo)，不僅是一種測度期刊有用性和顯示度的指標(biāo)，而且也是測度期刊的學(xué)術(shù)水平，乃至論文質(zhì)量的重要指標(biāo)。
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